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日本日立掃描探針顯微鏡控制器概述

AFM5000Ⅱ工作站采用全新的圖標(biāo)用戶界面，標(biāo)準(zhǔn)配備參數(shù)自動設(shè)置功能(RealTune® II)，即使是剛剛接觸SPM的初學(xué)者或者遇到全新的樣品時，也能快速獲得準(zhǔn)確的測量數(shù)據(jù)。

• 圖標(biāo)說明

• * RealTune是日立高新技術(shù)公司在日本的注冊商標(biāo)

日本日立掃描探針顯微鏡控制器特點
1. RealTune® II　樶新的參數(shù)自動設(shè)置功能

• *的參數(shù)自動設(shè)置功能！
  RealTune® II可預(yù)測并調(diào)整懸臂的振動振幅、動作頻率等主要參數(shù)，可以根據(jù)樣品表面的形貌、掃描范圍、掃描速度以及使用的懸臂的狀況，高效率、高精度地調(diào)整成合適的測量條件。
• 通過新增加的參數(shù)自動設(shè)置功能（RealTune® II），可實現(xiàn)一鍵（One Click）測量。
  原來需要專業(yè)操作才能完成的測量，現(xiàn)在即便是新手也可以輕松勝任。
• 也可用于高難度樣品。

【實例1】纖維狀的碳納米管結(jié)構(gòu)體（壁虎膠帶）
【樣品提供：日東電工股份公司】

以往的方法這些樣品需要對參數(shù)進行精細(xì)的調(diào)整，操作難度很高，并且柔軟的纖維易變形產(chǎn)生皺痕。

新處理方法

自動設(shè)置成合適的條件，可在復(fù)雜的纖維結(jié)構(gòu)不變形的情況下進行精zhun測量。

【實例2】用于有機薄膜晶體管的多結(jié)晶薄膜（并五苯多結(jié)晶薄膜）
【樣品提供：神戶大學(xué)北村研究室】

以往的方法這種樣品，表面容易損壞，易產(chǎn)生皺痕、臺階的輪廓也不明顯。

新處理方法

自動設(shè)置成合適的條件，穩(wěn)定地測量分子級別上的臺階結(jié)構(gòu)。

2. 全新的圖標(biāo)用戶界面（Graphical Use Interface）
簡單的菜單設(shè)置

• 明了易懂的圖標(biāo)、嚴(yán)格篩選的圖片信息，無論是初學(xué)者還是有經(jīng)驗的操作員，都能夠輕松掌控！
• 可通過選項卡在測量及分析之間相互切換，畫面簡潔明了。

3. 3D覆蓋功能

能夠?qū)悠沸蚊布拔锢硖匦辕B加顯示，并能構(gòu)畫出3D畫面，可以通過視覺感受表示樣品的物理特性。

4. 凹凸分析、剖面輪廓分析功能

5. 小型化設(shè)計

輕便的小型化外形，適合各種場地擺放。
220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、約15 kg

能夠?qū)悠沸蚊布拔锢硖匦辕B加顯示，并能構(gòu)畫出3D畫面，可以通過視覺感受表示樣品的物理特性。